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LabCool低溫測試裝置



超導(dǎo)杜瓦用背景磁體由背場低溫超導(dǎo)磁體單元、高溫超導(dǎo)帶材測試單元、測量與控制單元組成,可開展超導(dǎo)帶材的通電實(shí)驗(yàn),臨界電流測定實(shí)驗(yàn),Ic劣化試驗(yàn),帶材交流損失測定實(shí)驗(yàn),帶材磁場特性實(shí)驗(yàn),失超特性試驗(yàn)等帶材基礎(chǔ)性能檢測實(shí)驗(yàn)等。

 

LabCool低溫測試裝置

 

LabCool低溫測試裝置

 


技術(shù)參數(shù)

 

指標(biāo)技術(shù)參數(shù)
磁場強(qiáng)度4T
超導(dǎo)帶材冷卻溫度20~77K可調(diào)
超導(dǎo)帶材控溫精度±0.1K
帶材與背場磁場調(diào)整角度可實(shí)現(xiàn)0~360°


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